失效分析系統

通過微弱的光發射和熱發射來定位半導體器件上失效缺陷位置的顯微鏡成像系統。

加入對比 共 4 件產品
產品圖像 產品型號 產品名稱
產品圖像: 產品型號:C11222-16 產品名稱:PHEMOS-1000 微光顯微鏡
產品圖像: 產品型號:C10506-06-16 產品名稱:iPHEMOS-MP倒置光發射顯微鏡
產品圖像: 產品型號:C14229-01 產品名稱:Thermal-F1 熱發射顯微鏡
產品圖像: 產品型號:C10506-05-16 產品名稱:iPHEMOS-DD倒置光發射顯微鏡
請聯系我們獲取更多信息
  • 資料索取
  • 價格咨詢
  • 產品貨期
  • 產品定制
  • 演示申請
  • 樣品申請
  • 技術支持
  • 其他

產品信息|應用領域|技術支持|新聞活動|濱松中國

Copyright © Hamamatsu Photonics (China) Co.,Ltd. All Rights Reserved.

京ICP備12001255號 京公網安備11010502026391

自动阅读挂机赚钱的软件有哪些 排列五近50期走势 幸运28预测神测网大白 龙江风采p62开奖结果 贵州十一选五开奖结果查询一定牛 德国赛车运动 互联网金融产品的优缺点 二码中特期期 陕西11选五开奖结果一定牛 股票涨跌根据什么 4.97亿巨奖魏吉祥